：涡流检测厚度的方法原理

文章录入：华道顾问   文章来源：华道顾问   添加时间：2021/2/1

11.2.1 范围
涡流检测法适用于非铁磁性基体表面非导电覆盖层厚度的测量。涡流法测厚仪的覆盖层厚度测量范围一般在 300μm 以下。
11.2.2 基本原理
涡流测厚方法是基于涡流测量线圈接收到在导体中感应产生涡流的再生电磁场的大小随探头与导电体表面之间距离变化而改变，即提离效应。
11.2.3 影响因素∶
a） 覆盖层厚度;
b）基体金属的电性能;
c） 基体金属的厚度;
d）边缘效应;
e）曲率;
f） 表面粗糙度;
g）外来附着尘埃;
h）测头压力;
i） 测头的放置;
j） 试样覆盖层的变形。
11.2.4 仪器校准
11.2.4.1 校准标准片
可以采用塑料膜片或基体上带有非导电覆盖层的试样作为校准标准片。塑料膜片有利于在弯曲表面上的校准，并且比带有覆盖层的校准标准片更容易获得，但应保证塑料膜片与基体紧密接触
11.2.4.2 校准标准片的基体金属应具有与试样的基体金属相同或相似的电学性能。测量前应将从无覆盖层的基体金属试样上得到的读数与从被测试件基体金属上得到的覆盖层厚度测量读数进行比较，以确认校准标准片的适用性。
11.2.4.3 测量和校准的基体金属厚度应该尽可能相同。可以采用一片足够厚的、电学性能相同或相近的金属片将校准标准片和被测试件分别垫厚，使读数不受基体金属厚度变化的影响;如果被测对象的基体金属两面都有覆盖层，则不能用此方法。
11.2.4.4 如果待测覆盖层的弯曲状态使之不能以平面方式校准时，则带有覆盖层的标准片的曲率或放置校准膜片的基体的曲率应与待测试样的曲率相同。
11.2.5 测量程序
11.2.5.1 在每次仪器使用前、测量结束后，以及在使用中每隔一定时间（每小时至少一次），均应在测量现场对仪器的校准进行核查，以保证仪器的性能正常。
11.2.5.2 采用 11.2.4.3 所描述的标准片进行仪器校准。
11.2.5.3 应在离开试样的边缘、孔洞、内转角等处进行测量，否则应为测量所作校准的有效性加以确认。
11.2.5.4 应选择平面区域进行测量;如果只能在试样的弯曲表面上进行测量，应为测量所作校准的有效性加以确认。
11.2.5.5 读数次数
应根据被检测对象的大小、覆盖层厚度的均匀性及检测要求确定测量点数，至少应在被检测区域的边角和中间位置选择至少5点进行测量。对于厚度不均匀覆盖层的测量，应增大测量取点的密度。
11.2.5.6 表面清洁度
测量前应除去试样表面上的任何外来物质，如灰尘、油脂和腐蚀产物等，清洁准备工作不应损伤覆盖层。
11.2.6 检测结果评定
对于覆盖层厚度的测量不确定度应达到覆盖层厚度的 10%或 3μm 以内，取其大者。
12 检测结果评定
12. 1 信号分析
对检测中出现的信号，除能证明是由工件结构或其他原因引起的非相关信号外，其余信号均应进行分析。信号分析基于幅值、相位或两者的综合分析。
12.2 检测结果评定与处理
12.2.1 管材产品质量验收等级的规定应按供需双方合同，或按有关产品标准要求。
12.2.2 在用设备的结果评定应按照有关技术规范和标准要求与相关方确定。
12.2.3 被检件的检测结果评定与处理见本标准内各章要求。
13 检测记录和报告
13.1 应按照现场操作的实际情况详细记录检测过程的有关信息和数据。检测记录除应符合 NBT 47013.1 的规定外，还至少应包括如下内容 13.1.1 被检工件情况∶
a）工件名称;
b）工件编号;
c）工件规格;
d）工件材质;
e） 工件焊接方法和热处理状况;
f） 涂层种类和厚度（必要时）。
13.1.2 检测的区域和范围。
13.1.3 检测的种类∶
a） 涡流探伤;
b） 涡流测厚。
13.1.4 检测仪器设备∶
a） 检测仪器型号;
b） 检测仪器编号;
c）探头（类型、尺寸等）;
d） 试块型号。
13.1.5 检测工艺规程版次、工艺卡编号。
13.1.6 缺陷检测情况∶
a）缺陷位置简图;
b） 缺陷位置、尺寸、波幅等。
13.1.7 检测地点和检测日期。
13.1.8 检测人员和复核人员签字。
13.2 应依据检测记录出具检测报告。涡流检测报告除应符合 NB/T47013.1的规定外，还至少应包括如下内容
13.2.1 委托单位。
13.2.2 检测单位。
13.2.3 合同或协议要求∶
a）检测标准;
b）验收等级;
c）检测比例。
13.2.4 检测委托单位、产品（工件）制造单位或安装单位，或设备使用单位。
13.2.5 检测结果或结论。
13.2.6 检测人员和审核人员签字及其资格。
13.2.7 报告签发日期。

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